产品中心

您的位置: > 首页 > 产品中心 > ST5300-电源模块测试系统

ST5300-电源模块测试系统

发布时间:2018-09-12 访问次数:3164次 分享:

S800

ST5300-电源模块测试系统

ST5300是一款高精度的DC/DC电源模块参数测试系统,聚集了多年电子测试经验和专业知识,是可靠、精准、自动、高效的电源测试系统。模块化的硬件架构能够提供灵活多变的硬件组合,系统配置更为合理,系统包括程控电源供应器、电子负载、数字万用表、示波器等,在硬件上真正满足任何形式的电源模块测试要求。

该测试系统主要针对DC/DC电源模块的参数测试而设计的,由计算机和测试系统主机构成。模块化设计,维护方便,故障易于定位,通过更换故障,迅速排除故障。测试系统用于DC/DC的出厂测试、入厂检验和质量控制。

基本特征:

前沿创新性:提供开放的硬件平台和可自定义的应用软件,使得工程师轻松自定义电源测试流程;

测试高效性:从GPIB到USB、PXI总线,多总线兼容,自动化程度高;

功能扩展性:模块化的架构充分考虑到未来设备扩展的需求,功能模块扩充便捷迅速;

软件易用性:在保证强大功能的同时,系统软件对每个硬件模块提供独立的控制功能,支持分析验证;

成本经济性:软硬件架构保障从首次购入到后期使用、升级,都具极高性价比;

测试系统主要测试参数

输出电压Vo;                      

输入电流Ii;
电压调整率Sv(%)  Sv(mv);         电流调整率Si(%)   Si(mv); 
交叉调整率Sj(%)  Sj(mv);           效率E; 
输出纹波电压Vrip;                    输出纹波电压有效值Vr; 
启动延迟Ttr;                             全范围输出电压Vow;

稳压精度VA ;                            启动过冲Vto;

输出电流Io;                              输出电压温度系数ST;
输入端功率Pi;                           输入电压跃变时的输出响应Vvor; 

输入电压跃变时的恢复时间Tvor; 负载跃变时的输出响应Vlor; 

负载跃变时的恢复时间Tror;        过压保护点VIH; 

过流保护点Iom ;                        欠压保护点VIL;

科创项目库

更多>>
  • 半导体封装及电子组装技术转移

    项目简介:将日本最新,最先进的半导体封装和 SMT表面贴装技术与中国巨大的市场需 求和运营成本等优势相结合,成立一个 具有世界竞争力的高科技公司,致力于 SMT精密组装及下一代半导体封测领域 应用的高端设备研发与市场推广。

  • 高端硅基微型 OLED芯片显示

    项目简介:需攻克並整合半导体IC集成电路、OLED屏幕显示、有 机发光材料、光刻胶材料与工艺等多项最高精尖技术模块,才能设计与制造硅基显示器件。

  • 基于纳米银线的大尺寸电容触控膜的增材制造解决方案

    项目简介:本团队所开发的增材制造技术可用于生产大尺寸、高性能、低成本的透明电容触控膜,从而满足当前及未来市场需求。

  • 双界面NFC柔性测温标签

    项目简介:H26是一款32位NFC标签/MCU双界面集成电路产品,集成了32位CPU内核,64KB Flash,4KB RAM,丰富的通讯接口(SPI/I2C/UART/NFC-A/ISO14443-A),一个4通道轨到轨输入低噪声比较器,硬件随机数发生器以及硬件DES/3DES加解密电路。基于32位双界面MCU的智能温度监测柔性标签,采用超低功耗精准测温技术,使智能硬件可以在制造、仓储或终端使用时被HF RFID读卡器或NFC手机现场动态编程。产品具备轻薄、柔性,可定制记录模式,溯源功能,便于管理,可以和现有的基